能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000A合金測試儀-經(jīng)驗系數(shù)法測定鐵合金中Cr,Ni,Mn,Co,W元素

什么是X射線

像可見光一樣，X射線是一種電磁波.用于元素分析的X射線研究范圍：能量范圍約 1 – 50KeV；

波長范圍約 2.5-0.01nm

對應于電子躍遷的終態(tài)可將特征譜線分成K、L、M線系…每系譜線又根據(jù)電子躍遷初

始殼層的不同分為若干譜線。

該能量△E1 / △E2的熒光輻射強度與該特定元素在物質中的含量有關。例如,在探測器端,探測到6.4KeV的熒光輻射越強,該物質中所含的Fe就越多.反之亦然

XRF分析光譜儀的優(yōu)點如下

? 無損分析

? 制樣簡單

? 元素含量范圍寬ppm－100％

? 分析元素范圍廣Na(Be)-U

? 可分析多種形態(tài)的物質： 液體、固體、粉末

? 多元素同時分析,速度快

? 分析精度高，穩(wěn)定性好

本應用案例采用桌式能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000A合金測試儀經(jīng)驗系數(shù)法測定鐵合金中Cr,Ni,Mn,Co,W5種元素的低端含量.

通過確定儀器最佳參數(shù),選用不同生產(chǎn)線生產(chǎn)的具有含量梯度的樣品以及儀器提供的基體校正方法來消除吸收與增強效應.該方法對鐵合金中Cr,Ni,Mn,Co,W5種元素低端含量的測定結果準確.其誤差均滿足于生產(chǎn)需求,同時擴大了該儀器的應用領域,現(xiàn)已應用到日常生產(chǎn)分析中.