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XRF熒光光譜儀測(cè)定分析鐵礦石品質(zhì)---EDX9000B測(cè)礦儀

更新時(shí)間:2022-08-16      點(diǎn)擊次數(shù):1664

鐵礦石是鋼鐵工業(yè)的重要原料,其品質(zhì)的好壞直接影響著冶煉產(chǎn)品的質(zhì)量,因此,對(duì)鐵礦石品質(zhì)進(jìn)行快速,準(zhǔn)確的檢測(cè)是非常重要的.采用XRF分析技術(shù)對(duì)鐵礦石的品質(zhì)檢測(cè)具有測(cè)量時(shí)間短,結(jié)果穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn).我們對(duì)鐵礦石品質(zhì)的檢測(cè)展開(kāi)了XRF分析技術(shù)的研究,主要討論了影響測(cè)量精度的各種因素及校正方法,對(duì)鐵礦石中的氧化礦原礦,混合鐵精礦,再磨鐵精礦,永磁尾礦等樣品作了分析研究.論文取得的主要成果有:

1)從相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差的公式著手,對(duì)XRF分析儀器的精確度做了評(píng)價(jià),試驗(yàn)結(jié)果為RSD=0.150%;

2)通過(guò)對(duì)同一鐵礦石樣品分別進(jìn)行300s,200s,150s,1350s,120s,105s,95s,85s,75s,65s,55s,45s,35s,25s,15s,10s和5s的重復(fù)測(cè)試,評(píng)價(jià)了不同測(cè)量時(shí)間下XRF分析儀RSD值的趨勢(shì),得出EDX9000B高精度XRF快速分析儀在外部條件較穩(wěn)定的情況下,最佳測(cè)量時(shí)間為200s;

3)通過(guò)對(duì)"譜漂"的理論研究和數(shù)學(xué)模型的建立,從解譜軟件中的譜峰面積處理著手,將Fe的Kα峰面積與Kβ峰面積(即總峰面積)代替Kα峰面積,有效地解決了因"譜漂"而產(chǎn)生的計(jì)數(shù)率變化的問(wèn)題;

如下是鐵礦石實(shí)測(cè)譜圖

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時(shí)分析40種元素

3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作

7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專(zhuān)家EDX9000B Plus

>儀器參數(shù)

儀器外觀(guān)尺寸565mm*385mm*415mm

超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測(cè)器

探測(cè)器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類(lèi)型:全數(shù)字化DP-5分析器

譜總通道數(shù):4096

X光管:高功率50瓦光管(進(jìn)口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

光管窗口材料:鈹窗

準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm

濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發(fā)生裝置:原裝美國(guó)高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過(guò)載保護(hù),輸出精度:0.01%

樣品觀(guān)察系統(tǒng):500萬(wàn)像素高清CCD攝像頭

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °35 °C



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